GJB 150.10A-2009霉菌试验方法下载

GJB 150.10A-2009代替GJB150.10-1986*装备实验室环境试验方法 第10部分 霉菌试验

1  范围

本部分规定了*用装备实验室霉菌试验的日的与应用、剪裁指南、信息要求、试验要求、试验过程和结果分析的内容。

本部分适用于对*用装备进行霉菌试验。

2  引用文件

下列文件中的有关条款通过引用而成为本部分的条款。凡注日期或版次的引用文件，其后的任何修改（不包括勘误的内容）或修订版本都不适用于本部分，但提倡使用本部分的各方探讨使用其新版本的可能性。凡不注日期或版次的引用文件，其新版本适用于本部分。

GB/T2423.16-1999 电工电子产品环境试验 第2部分∶试验方法 试验J和导则∶长霉

GJB150.1A-2009 *用装备实验室环境试验方法 第1部分∶通用要求

GJB 4239 装备环境工程通用要求

3  目的与应用

3.1  目的

本试验的目的在于评定装备长霉的程度以及长霉对装备性能或使用的影响程度。

3.2  应用

3.2.1 本试验用于确定∶

a）装备或组件是否长霉

b） 霉菌在装备上的生长速度

c）  霉菌在装备上生长后对装备及其任务完成和使用安全性的影响∶

d） 装备能否在环境中有效贮存∶

e）若有霉菌生长，有无简单的去除方法。

3.2.2  本试验涉及高度专业化的技术，并含有潜在危害的微生物。只有具备专业技术资格的人员（如微生物专家）才能进行本试验。进行本试验所需的安全性信息见GB/T2423.16-1999。

3.3 限制

本试验不适用于基体材料的检测，基体材料的检测应采用其他材料检测方法，如土理、纯培养、混合培养和平板试验等方法。